Produktneuheit 09. März 2020

Die 4. Generation des TESCAN VEGA Rasterelektronenmikroskops (REM) mit Wolframfaden-Elektronenquelle kombiniert REM-Abbildung und Live-Elementzusammensetzungsanalyse in einem einzigen Fenster der TESCAN-Software Essence™. Diese Kombination vereinfacht die Erfassung sowohl morphologischer als auch elementarer Daten von der Probe erheblich und macht das VEGA REM zu einer effizienten analytischen Lösung für die routinemäßige Materialprüfung in der Qualitätskontrolle, der Fehleranalyse und in Forschungslabors.
Der TESCAN VEGA verfügt über ein innovatives Optikdesign, das eine sofortige und nahtlose Auswahl der Abbildungs- oder Analysebedingungen garantiert, wann immer dies erforderlich ist, ohne dass ein mechanisches Neuausrichten eines Elements in der Säule erforderlich ist. Mit dem voll integrierten Essence™ EDS ist der Wechsel von der Bildgebung zum analytischen Betrieb schnell und einfach. Ein einziger Mausklick ändert alle Setup-Parameter über die Software.